Fischerscope X-Ray XDV-SSD

Das Fischerscope X-Ray XDV-SDD ist ein universell einsetzbares energiedispersives Röntgenfluoreszenz-Messgerät. Es ist prädestiniert für die Messung und Analyse sehr dünner Schichten oder kleiner Konzentrationswerte in der Spurenanalyse. Mit dem hochpräzisen programmierbaren X/Y-Tisch und der Zungenfunktion für schnelles Beschicken ist es optimal für die automatisierte Probenmessung geeignet.

Typische Einsatzgebiete sind:

  • Analyse dünner und sehr dünner Beschichtungen, z.B. Gold-/Palladiumschichten von ≤ 0,1 µm
  • Spurenanalyse auf Leiterplatten nach RoHS- und WEEE-Anforderungen
  • Goldanalyse
  • Messung funktionaler Schichten in der Elektronik- und Halbleiterindustrie
  • Bestimmung komplexer Mehrschichtsysteme
  • Automatisierte Messungen z.B. in der Qualitätskontrolle